1980
MiCROTEC a été fondée le 20 mars 1980
par Paul Durst, Hansjörg Thaler et
Federico Giudiceandrea
1985
Introduction de la première technique de
triangulation de lumière laser au monde pour
la reconstruction en 3D de la surface du bois
1995
Introduction de la technologie de rayons X
pour soutenir le processus d'image dans la
reconnaissance des nœuds (Goldeneye)
1999
Première application des
méthodes d'apprentissage automatique
basées sur les réseaux neuronaux
dans le traitement des images
2006
Constitution de la société
Bio Vision Venezia en tant que
filiale italienne de MiCROTEC
à Mestre. MiCROTEC étend
ses activités dans le monde entier
2008
À l’institut de recherche et d'essais forestiers
FVA de Fribourg, en Allemagne, le CT Log est
officiellement présenté
2011
Présentation du premier tomographe industriel
de bois ronds à grande vitesse CT
2013
Introduction de la caméra CROMETiC,
développée en interne, avec des capteurs
numériques fournissant des images
en Full HD à ultra-haute vitesse
pour toutes les applications.
2015
WoodEye, acquisition d'un fabricant
suédois de scanners pour les
applications de deuxième transformation
2018
Acquisition du fabricant finlandais de scanners
pour scieries, FinScan
2019
Introduction du concept d’empreinte digitale
numérique et installation de l’IA par apprentissage
profond sur tous les systèmes de scanner
pour la qualité.
2020
Suite de contrôle MiCROTEC Mill Manager
pour tous les systèmes de numérisation
et d'optimisation de votre usine
2020
Présentation de la caméra hyperspectrale développée en interne
2020
MiCROTEC fête ses 40 ans d’activité avec une grande
expansion et rénovation de son siège à Bressanone
2020
MiCROTEC acquiert la société
américaine Lucidyne Technologies, Inc.
2021
Introduction de la nouvelle génération
de scanners de
qualité linéaire Goldeneye/WoodEye
2022
Introduction de la plateforme
MiCROTEC Ai
2022
Stratégie mondiale «one brand»: WoodEye,
FinScan et Lucidyne sont intégrés sous la
marque corporate MiCROTEC
2023
Présentation de MiCROTEC Connect,
incluant Mill Manager pour l’optimisation
de la valeur et du rendement à l’échelle
de la scierie
2025
Mise en oeuvre de l'apprentissage
transversal par le CT Log
